RISTI - Revista Ibérica de Sistemas e Tecnologias de Informação Print version ISSN 1646-9895
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TOSCANO, Iker et al. Análisis automático de micrografías SEM mediante aprendizaje profundo. RISTI [online]. 2023, n.49, pp.100-114.
Epub Mar 31, 2023. ISSN 1646-9895.
